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고장분석

성분분석

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현미경분석

장비리스트
장비명 모델명 제조사/제조국 기타
집속이온빔 (FIB) Quanta3D FEG FEI/네델란드 미세가공, 회로 수정, 고장분석, 성분분석, TEM 시료 제작
주사현미경 (E-SEM)장비상세 보기 XL30 Philips/네델란드 미세조직 관찰, 성분분석
투과전자현미경 (TEM) ARM200 JEOL/일본 극미세구조 분석, 성분분석, 결정학적 특성 분석