| 1155 |
커넥터 시험 문의 |
장은별 |
2025-03-12 |
진행중 |
| 1154 |
IC칩 EDA 평가 및 TSD평가 진행 문의 건 |
박종명 |
2025-03-12 |
진행중 |
| 1153 |
전문가 입회 시험 진행 가능 여부 문의드립니다. |
오은혜 |
2025-03-12 |
진행중 |
| 1152 |
커넥터 내측 CT 촬영 요청의 건 |
이상민 |
2025-03-11 |
진행중 |
| 1151 |
저저항 측정기 방문 사용 문의 |
공영덕 |
2025-03-11 |
진행중 |
| 1150 |
커넥터 시험 문의 |
이종협 |
2025-03-11 |
진행중 |
| 1149 |
[위멤스] 진동, 충격 시험 문의 |
윤성종 |
2025-03-10 |
답변완료 |
| 1148 |
HE LEAK TEST 가능 유무 문의 |
천관우 |
2025-03-10 |
답변완료 |
| 1147 |
단자 주석도금, 존도체용 구리 신뢰성 시험 의뢰 요청 |
조형준 |
2025-03-10 |
답변완료 |
| 1146 |
내전압 시험 관련 문의 |
김완주 |
2025-03-06 |
답변완료 |
| 1145 |
금속/비금속 전자기물성(투자율, 유전율) 측정 문의 |
박두현 |
2025-03-06 |
답변완료 |
| 1144 |
PCB 고속신호 특성 측정 관련 문의의 건 |
김보람 |
2025-03-05 |
답변완료 |
| 1143 |
저온 굽힘 시험 문의 |
박성범 |
2025-03-05 |
답변완료 |
| 1142 |
안테나 방사패턴 측정 문의 |
김민경 |
2025-03-05 |
답변완료 |
| 1141 |
입회평가 문의 건 |
김하은 |
2025-03-04 |
답변완료 |
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